Alpha300S掃描近場(chǎng)顯微鏡

n產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

  傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的空間分辨率受限于光學(xué)衍射極限，最高分辨率為波長(zhǎng)的一半λ/2。掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 (SNOM或NSOM) 則可以突破衍射極限，實(shí)現(xiàn)了60-100nm的超高光學(xué)空間分辨率。近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域非常廣，無需特殊樣品制備。

WITec公司的 alpha300 S近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡采用硅基中空懸臂式近場(chǎng)探針，輕松實(shí)現(xiàn)超衍射極限的光學(xué)成像。在近場(chǎng)光學(xué)圖像采集的過程中，可同時(shí)獲得樣品的AFM表面形貌，實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)光學(xué)信息與樣品形貌的相關(guān)分析。WITec近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)采用成熟穩(wěn)定的AFM激光偏轉(zhuǎn)反饋系統(tǒng)同來控制探針與樣品之間的距離。與熒光技術(shù)聯(lián)用，近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)單分子檢測(cè)。

n技術(shù)特色：

- 突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率:可實(shí)現(xiàn)60-100nm超高光學(xué)分辨率。

- 獨(dú)家專利的SNOM懸臂探針技術(shù)

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                    [A] SNOM探針和樣品的光學(xué)圖像(俯視圖)

                    [B] 探針側(cè)視圖

                    [C] SNOM探針的SEM圖像

                    [D] SNOM探針尖端的小孔SEM圖像

                    [E] 批量生產(chǎn)的SNOM探針

- 操作簡(jiǎn)單：alpha300 S系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動(dòng)進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動(dòng)測(cè)試流程，操作非常簡(jiǎn)便、直觀。

- 工作模式多：配備透射、反射及熒光等多種光學(xué)模式。 

- 由于近場(chǎng)光學(xué)信號(hào)極其微弱，配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管，并同時(shí)提供檢測(cè)器快速超載保護(hù)。

- 在空氣與液體中均可使用

- 非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備

- 集成三種技術(shù)到一臺(tái)儀器上：共聚焦拉曼顯微鏡、AFM 和SNOM 

n測(cè)試實(shí)例：