CMP后雙面清洗機
型號:CHEMIXX CMP 30pm
產地:德國
關鍵字:CMP后清洗機,晶圓清洗機,wafer清洗機
n產品簡介
CHEMIXX CMP 30pm是一款專門為晶圓雙面清洗設計的系統,獨立系統,占地面積小,非常適合有限的空間。具有4路化學液清洗,兆聲清洗,雙面PVA刷洗,去離子水沖洗等清洗模塊,對晶圓有頂級的清洗能力。
n產品特色
÷ 晶圓最大 300mm
÷ PVA雙面刷洗
÷ 支持4路化學液清洗,包括氨水與SCI液體
÷ 工作臺含驅動組件,用于晶圓低速旋轉(50-100 rpm)
÷ 化學清洗臂含 4 路化學液
÷ 具有去離子水和稀釋氨分配的水坑噴嘴
÷ 具有去離子水的 BSR(背面沖洗)噴嘴
÷ ??????? 具有帶有流通孔的工藝室
÷ ??????? 標配三種不同化學品供應系統
÷ ??????? 工藝室外的手動去離子水槍。
÷ ??????? 化學液可加熱,最高可達 60°C(最高85°C )
÷ ??????? 外部可更換化學液
÷ ??????? 支持兆聲清洗
÷ ??????? 支持高壓等離子水沖洗
n技術數據
÷ ??????? 襯底尺寸: Ø200 mm (Ø8 inch) 或 Ø300 mm (Ø12 inch)
÷ ??????? 電機轉速: 最大 3.000 rpm, 步長 1rpm
÷ ??????? 電機加速: 1 至 999.9 秒,步長 0.1 s
÷ 工藝腔室: 由 PP 白色制成(可選 PVDF)

網站關鍵詞:臨時鍵合機 濕法系統 濕法臺 濕法臺 金屬減薄機 晶圓貼片機 晶圓貼膜機 金屬研磨機 微米劃痕儀 CMP拋光機 CMP拋光機 納米劃痕儀 晶圓厚度測量系統 晶圓厚度測量系統 晶圓厚度測量系統 晶圓厚度測量系統 晶圓厚度測量系統 拉曼顯微鏡 三維表面形貌儀 掃描超聲顯微鏡 化學機械拋光機 CMP后清洗機 CMP后清洗機 CMP后清洗機 棱鏡耦合儀 棱鏡耦合儀 超聲顯微鏡
產品中心
-
三維表面形貌儀
-
Mountains分析軟件
-
微納米力學測試系統
-
摩擦磨損試驗機
-
SIC晶錠滾磨機/晶圓減薄機
-
CMP化學機械拋光/后清洗機
-
晶圓粘片機
-
臨時鍵合機/解鍵合機
-
晶圓厚度/三維形貌/膜厚測量系統
-
表面顆粒度檢測系統
-
原子力顯微鏡
-
拉曼顯微鏡
-
紅外光譜儀
-
4D生物顯微鏡
-
晶圓AOI系統
-
晶圓電阻率/方塊電阻測量儀
-
納米壓印系統
-
光柵尺寸無損檢測儀
-
磁控濺射/熱蒸發/電子束鍍膜系統
-
LPCVD/PECVD
-
干法刻蝕
-
等離子灰化去膠系統
-
晶圓勻膠機/噴膠機
-
晶圓烤膠系統(熱板)
-
濕法(顯影刻蝕清洗)系統
-
晶圓貼片機/貼膜/解膠機
-
棱鏡耦合儀
-
快速退火爐/真空高溫爐
-
光刻膠邊緣分析
-
劃片機
-
平面磨床/金屬研磨機
-
接觸角測量儀