Alpha300S掃描近場顯微鏡

n產品簡介：

  傳統光學顯微鏡的空間分辨率受限于光學衍射極限，最高分辨率為波長的一半λ/2。掃描近場光學顯微鏡 (SNOM或NSOM) 則可以突破衍射極限，實現了60-100nm的超高光學空間分辨率。近場光學技術應用領域非常廣，無需特殊樣品制備。

WITec公司的 alpha300 S近場光學顯微鏡采用硅基中空懸臂式近場探針，輕松實現超衍射極限的光學成像。在近場光學圖像采集的過程中，可同時獲得樣品的AFM表面形貌，實現近場光學信息與樣品形貌的相關分析。WITec近場光學系統采用成熟穩定的AFM激光偏轉反饋系統同來控制探針與樣品之間的距離。與熒光技術聯用，近場光學系統可實現單分子檢測。

n技術特色：

- 突破衍射極限的空間光學分辨率:可實現60-100nm超高光學分辨率。

- 獨家專利的SNOM懸臂探針技術

?

                    [A] SNOM探針和樣品的光學圖像(俯視圖)

                    [B] 探針側視圖

                    [C] SNOM探針的SEM圖像

                    [D] SNOM探針尖端的小孔SEM圖像

                    [E] 批量生產的SNOM探針

- 操作簡單：alpha300 S系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。

- 工作模式多：配備透射、反射及熒光等多種光學模式。 

- 由于近場光學信號極其微弱，配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。

- 在空氣與液體中均可使用

- 非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術，基本不需要樣品制備

- 集成三種技術到一臺儀器上：共聚焦拉曼顯微鏡、AFM 和SNOM 

n測試實例：