共 11 個產品
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科研級晶圓厚度測量系統
品牌:Sentronics Metrology
型號:SemDex M1
產地:德國
關鍵字:TTV、Bow、Warp TSV、RST、薄膜厚度、晶圓厚度、粗糙度,關鍵尺寸。¥ 0.00立即購買
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全自動晶圓厚度測量系統
品牌:Sentronics Metrology
型號:SemDex M2
產地:德國
關鍵字:TTV、Bow、Warp TSV、RST、薄膜厚度、晶圓厚度、粗糙度,關鍵尺寸。¥ 0.00立即購買
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全自動晶圓厚度測量系統
品牌:Sentronics Metrology
型號:SemDex A32
產地:德國
關鍵字:TTV、TSV、RST、Bow/Warp、薄膜厚度、晶圓厚度、粗糙度¥ 0.00立即購買
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晶圓魔鏡
品牌:E+H
型號:GNS
產地:德國
關鍵字:晶圓光學輪廓儀、晶圓三維表面形貌儀、納米顯微鏡¥ 0.00立即購買
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全自動晶圓厚度測量系統
品牌:E+H Metrology
型號:MX 2012
產地:德國
關鍵字:高產量、厚度,電阻率¥ 0.00立即購買
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全自動晶圓測厚儀
品牌:E+H Metrology
型號:MX 2012
產地:德國
關鍵字:全自動、模塊化集成¥ 0.00立即購買
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MX10系列晶圓厚度測量儀
品牌:E+H
型號:MX10系列
產地:德國
關鍵字:晶圓厚度,TTV測量儀¥ 0.00立即購買
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MX203系列手動晶圓厚度測量儀
品牌:E+H
型號:MX203系列
產地:德國
關鍵字:晶圓厚度,TTV測量儀,Bow彎曲度,Warp翹曲度,Stress應力,flatness平整度¥ 0.00立即購買
產品中心
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三維表面形貌儀
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臨時鍵合機/解鍵合機
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晶圓厚度/三維形貌/膜厚測量系統
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表面顆粒度檢測系統
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